超大规模集成电路设计 2 逻辑与测试

1 (p0-1): 目录
1 (p0-2): 第一章 布尔代数
1 (p0-3): 1.1 数的表示
9 (p0-4): 1.2 布尔代数和开关理论
13 (p0-5): 1.3 逻辑函数和标准式
17 (p0-6): 1.4 逻辑函数的简化
35 (p0-7): 第二章 逻辑设计基础
35 (p0-8): 2.1 组合电路的设计
57 (p0-9): 2.2 时序电路的设计
74 (p0-10): 2.3 面向VLSI的系统设计
92 (p0-11): 第三章 描述语言
92 (p0-12): 3.1 描述语言的作用和历史
100 (p0-13): 3.2 结构描述语言
129 (p0-14): 3.3 功能描述语言
154 (p0-15): 3.4 图形描述语言
169 (p0-16): 3.5 描述语言和语言处理系统
175 (p0-17): 第四章 逻辑模拟
175 (p0-18): 4.1 逻辑模拟基础
181 (p0-19): 4.2 门级模拟
193 (p0-20): 4.3 逻辑模拟的通用化
202 (p0-21): 第五章 故障测试序列的生成
202 (p0-22): 5.1 故障模型和测试
208 (p0-23): 5.2 算法
220 (p0-24): 5.3 故障模拟
232 (p0-25): 5.4 存贮器的测试系列
241 (p0-26): 第六章 易测性设计
241 (p0-27): 6.1 易测试方法
247 (p0-28): 6.2 易测性PLA
254 (p0-29): 6.3 时序电路的易测性设计
267 (p0-30): 6.4 内部测试法
276 (p0-31): 参考文献
279 (p0-32): 索引 本书从基础理论到最新发展, 介绍了集成电路设计中的逻辑设计与测试技术. 其中包括布尔代数, 逻辑设计, 逻辑模拟, 测试系统的生成及易测性设计 本书从基础理论到最新发展, 介绍了集成电路设计中的逻辑设计与测试技术等